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供應美國博曼X-RAY膜厚測試儀
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產品/服務: 瀏覽次數:135鍍層膜厚測試儀 
型 號: BA100 
規 格: 450*450*600 
品 牌: 美國博曼 
單 價: 電議/面議 
起訂量:  
供貨總量:
發貨期限: 自買家付款之日起 3 天內發貨
更新日期: 2014-11-07  有效期至:長期有效
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產品屬性
 產品型號:  BA100
 產品規格:  450*450*600
 產品品牌:  美國博曼
詳細信息
 BOWMAN膜厚測試儀檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器,保證鍍層厚度品質,減少電鍍成本浪費. 典型的應用範圍如下:
單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。 
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。 
雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。  
.x射線激發能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素
(BOWMAN)博曼膜厚測試儀應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意,為客戶創造大的價值是金東霖追求的目標,因為我們堅信,客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖,有需要的朋友請聯系周小姐,聯系電話:0755-29371651
半導體博曼X-RAY鍍層膜厚測試儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨特的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統。 
 它的出現解決了分析和測量日趨小型化的電子部件,包括線路板,芯片和連接器等帶來的挑戰。這種創新技術的,目前正在申請專利的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產生很大的輻射強度,這就可以在小到幾?reg;微米的結構上進行測量。在經濟上遠遠優于多元毛細透鏡的BOWMAN專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析。博曼膜厚測試儀可以勝任測量傳統的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。具有強大功能的X-射線可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達25種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。有需要的朋友請來電咨詢希望我們能成為長期的合作伙伴!聯系人:周小姐,聯系電話:0755-29371651
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