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供應美國半導體博曼（BOWMAN)膜厚測試儀
.膜厚測試儀的界面主要部分： A） 待測樣品放大的圖像 B） 清晰的測試結果顯示：可選擇標準或大字符 C） X射線波譜，顯示樣品中主要元素美國B
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供應BOWMAN(博曼）X-RAY膜厚測試儀
美國博曼 X-射線熒光分析膜厚測試儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能優越,而且價錢超值.,分析鍍層厚度和元素成色同時
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博曼X-RAY膜厚測試儀
博曼X-RAY膜厚測試儀特點有：1.可測量0.01um-300um的鍍層。2.可做各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測量。3.除平板形外，還可測量圓
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供應電鍍膜厚測試儀，測厚儀（BOWMAN)
Bowman膜厚測試儀儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。歡迎隨時來電咨詢或親臨我司測
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鍍金X-RAY膜厚測試儀
鍍金X-RAY膜厚測試儀采用真正的基本參數原理（FP）來測量厚度。博曼膜厚測試儀電動的X/Y 桌可以在測量門打開時變速移動X/Y 桌出來給
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供應PCB鍍金膜厚測試儀（美國博曼）
鍍金膜厚測試儀的綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. 鍍液分
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X-RAY鍍層膜厚測試儀
X-RAY鍍層膜厚測試儀1.準值儀4種孔徑內藏式儀器測量直徑小可達到150微米。可供選擇的準直器直徑有0.1、0.2、0.3和1.5毫米。2.
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